Calibration-校準
校準程序是重復測定和記錄設備間測量偏差,及其與比較標準偏差的過程。
在 WEETECH 測試系統中,校準程序定義在已集成的診斷功能中(參見診斷),在校準過程中,可對發生器、測量裝置以及開關矩陣中每個測試點的絕緣性能和傳輸電阻進行檢測。
WEETECH 會在交付前對每個測試系統都運行校準過程,并根據操作要求和操作區域,定期重復進行校準。
除了使用相對成本較高的校準程序,還可以借助特定的待測物 (UUT)(也稱為“標準樣本”)來檢驗測試系統。此方法簡單可行,能夠在較短時間段以內對系統的正常運行進行檢驗,例如每天或在新批次開始生產時。