測(cè)量模式是測(cè)量硬件的一種工作模式。通常如果測(cè)量裝置（如 CMU*、VMU*）集成在測(cè)試系統(tǒng)中，就可以按測(cè)量模式工作。
對(duì)于每個(gè)測(cè)試步驟，測(cè)量裝置會(huì)提供測(cè)試點(diǎn)的電流和電壓值，從而間接提供有效負(fù)載電阻值。該值通過(guò)歐姆定律來(lái)確定。和比較器模式一樣，UIG* 以電流控制或電壓控制模式工作。此外，應(yīng)準(zhǔn)確測(cè)量相應(yīng)另一個(gè)值，并計(jì)算精確負(fù)載電阻。這樣，將確定的值與編程閾值比較，以便將測(cè)試步驟評(píng)為通過(guò)或失敗。
例如，在開(kāi)路測(cè)試中，將提供可編程恒定電流，以測(cè)量待測(cè)物 (UUT) 的電壓降。在短路測(cè)試中，發(fā)生器將提供恒定電壓，以便測(cè)量浮動(dòng)電流。
對(duì)于元器件測(cè)試，可以在 WEETECH 的一些測(cè)試系統(tǒng)中（W 434、W 444、W 454 和 W 454 HV / W 454 SHV）對(duì)頻率進(jìn)行編程，以便測(cè)量電阻 (R)、電感 (L) 和電容 (C) 組合（參見(jiàn) RLC 測(cè)量）。
比較器模式
實(shí)際這不是真實(shí)意義上的測(cè)量模式，但通過(guò)比較已知值（發(fā)生器編程電流或電壓），可以通過(guò)定性方式來(lái)確定是否達(dá)到目標(biāo)值。
測(cè)量外部電壓
外部電壓指外部電源的電壓，測(cè)試時(shí)外部電源與待測(cè)物相連。在運(yùn)行功能測(cè)試時(shí)，通常必須提供外部電壓。這些電壓的測(cè)量由測(cè)試系統(tǒng)的 VMU 執(zhí)行，可能需要這些電壓值才能確保待測(cè)物完整測(cè)試。
*CMU = 電流測(cè)量裝置
*VMU = 電壓測(cè)量裝置
*UIG = UI 發(fā)生器
關(guān)鍵詞 Adaption-轉(zhuǎn)接 Cable Test-電纜測(cè)試 Distributed System-分布式系統(tǒng) Front Plate Module-前面板模塊 HV-DC 測(cè)試 Insulation Test-絕緣測(cè)試 Kundenspezifischer Kabelsatz (KSK) Logging-記錄 Measurement Mode-測(cè)量模式 Measurement Units-測(cè)量裝置 Remote-遠(yuǎn)程 Sense-測(cè)量 Test End Control-測(cè)試結(jié)束控制 Topology-拓?fù)浣Y(jié)構(gòu) Unit Under Test (UUT)-待測(cè)物 (UUT)
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